Charon 系列殘余應力分析儀
· 適用于齒輪、管和環等零件上關鍵點的殘余應力分析
· 可以進行物相和織構分析
· 符合大眾 PV1005 標準
· 可根據大眾 PV 標準進行殘余奧氏體分析
· 支持自動檢測模式
Charon 系列殘余應力分析儀
· 適用于齒輪、管和環等零件上關鍵點的殘余應力分析
· 可以進行物相和織構分析
· 符合大眾 PV1005 標準
· 可根據大眾 PV 標準進行殘余奧氏體分析
· 支持自動檢測模式
Sun 系列晶粒取向分析儀
? 采用勞厄法對太陽能光電板進行晶粒取向分析
? 掃描速度快，單點掃查、分析時間小于 10 秒
? 可通過相機、文檔定義等方式確定檢測點
? 支持自動檢測模式
Galaxy系列單晶取向分析儀
? 采用勞厄法進行單晶材料取向分析
? 提供自動數據采集、檢索、參照工件的幾何軸計算分析單晶取向
? 可進行晶界差計算
? 可通過相機、文檔定義等方式確定檢測點
? 持自動檢測模式
定制化X射線分析儀
? 可根據檢測要求，定制化各種型號的 X 射線衍射分析儀
? 支持定制化的機械平臺和軟件功能
? 可在同一臺設備實現多種功能，包括殘余應力分析和單晶取向分析等
? 可根據檢測要求，制定自動化的檢測流程
原位觀察分析儀
? 可根據實驗要求加裝環境條件，配置高溫爐、冷卻裝置、反應釜、氣體保護裝置等
? 采用快速探測器，每秒可采集 40 度范圍的衍射信息，實現原位觀察
? 可用于生長過程、物相變化、金屬研究、鋰電池、磁性材料、薄膜 PV 和陶瓷等材料的原位觀察和分析
